6.3 工艺要求
6.3.1 物料准备区应符合下列规定:
1 物料准备区宜分为洁净区和非洁净区,洁净区的洁净度等级应为8级或优于8级;
2 物料准备区应保证工艺辅料、耗材和元器件的真空、干燥、氮气保护等存储条件要求;
3 物料准备区宜包括物料检测工作台、齐套准备工作台等;
4 放置充氮柜空间应配置设备电源接口、氮气、压缩空气接口以及防静电接地接口。放置除湿柜空间应配置设备电源接口、压缩空气接口以及防静电接地接口;
5 放置自动货架空间应配置设备电源接口、压缩空气接口;
6 放置真空包装塑封机空间应配置电源接口、真空泵及电源接口或真空管道接口。
6.3.2 清洗区工艺应符合下列规定:
1 清洗区宜分为洁净区和非洁净区,洁净区级别应为8级或优于8级;
2 电路基片和组装前零部件应在洁净区清洗,机加零件、钎焊接头后的腔体等零部件可在非洁净区清洗;
3 清洗用水槽应配备自来水、纯水,台面应承受一定重量并且耐酸碱、耐老化、耐高温;
4 清洗区排风系统应位于清洗机上方,排风量宜预留适当余量;
5 清洗区应根据产量和清洗物料品种设置纯水水槽和喷淋槽;
6 排液系统管道应防酸碱腐蚀和耐有机溶剂浸泡;
7 清洗废液应集中处理;
8 清洗机旁应配置洗眼器等安全防护设施;
9 等离子清洗机应配置氩气、氧气、氮气等高纯气体接口。
6.3.3 装配区应符合下列规定:
1 装配区宜分为洁净区和非洁净区,洁净区级别宜为7级;
2 在工作区整体照明系统基础上,使用显微镜的粘接、共晶工位宜设置局部照明;
3 装配显微镜放大倍数宜为10倍~40倍,检验显微镜放大倍数宜为10倍~100倍;
4 钎焊和电装工序宜布置在非洁净区域,应配备烟雾净化过滤系统;
5 各种焊接炉、焊接机器人宜配备高纯氮气接口,并宜根据需要配置压缩空气、冷却液和排风口等;
6 精密返修系统应配备压缩空气接口;
7 自动送料机、螺钉自动锁紧设备等应配备压缩空气接口;
8 点胶设备应配备压缩空气接口;
9 手动、半自动、自动共晶机宜使用高纯氮气或氮氢混合气,使用氮氢混合气应设置工艺排风;
10 真空共晶机宜使用高纯氮气,若使用甲酸、氮氢混合气应有尾气处理装置;
11 烘箱和固化炉宜选择温度、时间可程序控制的型号,烘箱应配置排风系统;
12 手动、半自动和自动贴片机应配备压缩空气接口、真空接口;
13 金丝、硅铝丝、粗铝丝键合机及金带键合机应配备压缩空气接口,宜配备真空接口和氮气接口;
14 倒装焊接机应配备真空接口、高纯氮气接口,宜配备压缩空气接口;
15 底部填充设备应配备压缩空气接口;
16 芯片叠层工序用划片机应配备真空接口、压缩空气接口;
17 拉力剪切力测试仪应配备真空接口、压缩空气接口。
6.3.4 测试与调试区应符合下列规定:
1 测试与调试区宜分为洁净区和非洁净区,洁净区级别宜为7级;
2 有芯片的微波集成组件封盖前测试、调试应在洁净区进行;
3 调试区宜在微波测试调试区中设定相对独立区域,当调试区无单独指标调整工位时,宜在装配区明确相应的粘接、电装、键合工位;
4 芯片组装前筛选测试,可在试验区搭建芯片探针台测试。
6.3.5 封盖区工艺设计应符合下列规定:
1 封盖区宜分为洁净区和非洁净区,洁净区级别宜为7级;
2 封焊设备主体部分应置于洁净区,封焊设备辅助部分可置于非洁净区域;
3 激光封焊、平行缝焊等设备宜配置手套箱和氮气干燥装置;
4 手套箱内应设置监控内部气氛的装置。
6.3.6 涂覆区应符合下列规定:
1 涂覆区环境温度宜为10℃~30℃,不应超过涂料允许的操作温度范围;
2 操作环境有害物浓度应符合现行国家职业卫生标准《工业企业设计卫生标准》的有关规定;
3 喷涂柜或水幕通风柜风口风速宜为0.6m/s~0.8m/s;
4 干燥箱、隧道炉、烘房等烘干设备应有自动控温功能,并应设置排气。
6.3.7 环境试验区应符合下列规定:
1 环境试验区宜为非洁净区;
2 环境试验区应配置基本环境试验设备及微波集成组件测试仪器;
3 振动试验应单独形成一个区域,并应远离其他生产区;
4 环境抽样试验可使用专用测试台或测试工作站。
6.3.8 分析区洁净度等级宜为8级。
6.3.1 微波集成组件内部装配裸芯片的产品,其生产厂房洁净等级尽量为8级,生产航天用微波集成组件,其生产厂房洁净等级尽量为7级。若微波集成组件内部无裸芯片只装配封装器件,其生产厂房尽量为恒温、恒湿的空调厂房。
6.3.2 清洗工作台要耐酸碱、耐高温。有机清洗液易挥发,根据现行国家标准《洁净厂房设计规范》GB 50073的要求设置局部排风。
6.3.4 直流检测包括产品通断、静态电阻测试以及检测点工作电压工作电流的测试;微波集成组件调试包括内部阻抗匹配调整、电流、电压微调等,以及相应的解焊、焊接、更换芯片的粘接、键合等工作;功能测试和全温增益、功率、衰减精度等指标测试。具体产品的测试和调试要求不同,如收发组件、前端组件、变频组件等微波集成组件测试电压驻波比、插入损耗和功率增益、隔离度、开关速度、噪声系数等指标。