6.2 基本性能试验

6.2.1 接触式探测器
6.2.1.1 使试样处于正常监视状态，将试样放入温控装置，调整温控装置使其以不大于1℃/min的升温速率升温直至试样报警，观察试样的状态，记录报警温度值。
6.2.1.2 使试样处于正常监视状态并使试样的温度传感器的温度恢复至室温状态，调整温控装置内的温度到高于试样报警设定值20%，将试样放入温控装置内，并开始计时。当试样发出报警信号时，观察试样的状态，记录响应时间。
6.2.1.3 使试样处于正常监视状态，将试样与外接测温传感器之间的连接线分别设置断路和短路故障，检查试样故障信号的传送情况。
6.2.1.4 检查试样的报警设定值的设置情况。
6.2.1.5 对于具有实时显示温度值功能的探测器，检查试样的温度值显示误差情况。
6.2.2 非接触式探测器
6.2.2.1 将试样固定在支架上，使试样处于正常监视状态，按照制造商规定的要求，使试样对准标准黑体辐射源，调整距离使试样处于黑体辐射源的辐射范围内，使标准黑体辐射源的温度以不大于1℃/min的升温速率升至试样报警，观察试样的状态，记录报警温度值。
6.2.2.2 用挡板遮住标准黑体辐射源，将试样复位，使试样处于正常监视状态，调整标准黑体辐射源内的温度到高于试样报警设定值20%，移走挡板，开始计时。当试样发出报警信号时，观察试样的状态，记录响应时间。
6.2.2.3 使试样处于正常监视状态，将试样与外接测温传感器之间的连接线分别设置断路和短路故障，检查试样故障信号的传送情况。
6.2.2.4 检查试样的报警设定值的设置情况。
6.2.2.5 对于具有实时显示温度值功能的探测器，检查试样的温度值显示误差情况。