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4.20 射频电磁场辐射抗扰度试验
4.20.1 目的
检验探测器在射频电磁场辐射环境下工作的适应性。
4.20.2 试验方法
4.20.2.1 将试样安放在不导电支座上，接通电源，使试样处于正常监视状态15 min。
4.20.2.2 按GB/T 17626.3—1998中的要求，对试样施加表2所示条件的电磁干扰：
检验探测器在射频电磁场辐射环境下工作的适应性。
4.20.2 试验方法
4.20.2.1 将试样安放在不导电支座上，接通电源，使试样处于正常监视状态15 min。
4.20.2.2 按GB/T 17626.3—1998中的要求，对试样施加表2所示条件的电磁干扰：
4.20.2.3 干扰期间，观察并记录试样工作状态。
4.20.2.4 干扰环境结束后，按4.2.3条规定方法测量响应点D值，与该试样在一致性试验中的D值相比较，大者为Dmax，小者为Dmin，计算响应阈值比Smax:Smin。
4.20.2.4 干扰环境结束后，按4.2.3条规定方法测量响应点D值，与该试样在一致性试验中的D值相比较，大者为Dmax，小者为Dmin，计算响应阈值比Smax:Smin。
4.20.3 要求
试验期间，试样不应发出报警信号或不可恢复的故障信号；试验后，试样响应阈值比Smax:Smin应不 大于1.3。
试验期间，试样不应发出报警信号或不可恢复的故障信号；试验后，试样响应阈值比Smax:Smin应不 大于1.3。
4.20.4 试验设备
试验设备应满足GB/T 17626.3—1998的有关要求。
试验设备应满足GB/T 17626.3—1998的有关要求。
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- 前言
- 1 范围
- 2 规范性引用文件
- 3 一般要求
- 4 要求与试验方法
- 4.1 总则
- 4.2 响应阈值测量
- 4.3 一致性试验
- 4.4 重复性试验
- 4.5 方位试验
- 4.6 通电试验
- 4.7 电源参数波动试验
- 4.8 环境光线干扰试验
- 4.9 高温（运行）试验
- 4.10 低温（运行）试验
- 4.11 恒定湿热（运行）试验
- 4.12 恒定湿热（耐久）试验
- 4.13 腐蚀试验
- 4.14 绝缘电阻试验
- 4.15 耐压试验
- 4.16 振动（正弦）（运行）试验
- 4.17 振动（正弦）（耐久）试验
- 4.18 冲击试验
- 4.19 碰撞试验
- 4.20 射频电磁场辐射抗扰度试验
- 4.21 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验
- 4.22 静电放电抗扰度试验
- 4.23 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
- 4.24 浪涌（冲击）抗扰度试验
- 4.25 火灾灵敏度试验
- 5 检验规则
- 6 标志
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